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·探针卡应用在IC尚未封装前针对裸晶系以探针做功能测试 2010.10.14
·ECT探针一旦盲目调整后很难恢复到原来的状态 2010.10.14
·ECT探针在未加压缩空气时不可强行拉动动子 2010.10.01
·对ECT探针定子的损伤将直接影响工作台的步进精度及设备使用寿命 2010.10.01
·新的QA探针测量测量系统的采样环节无需加热且响应快 2010.09.16
·标准探针长度及重量与普通探针基本一致 2010.09.16
·通过探针分离和描绘低质量小分子和极性分子 2010.08.23
·可实现污染物去除和探针研究的一步完成 2010.08.23
·修补技巧甚至实用于将感兴致的讯号连到芯片的外表供进一步视察 2010.08.12
·悬臂尖端带有一个用来扫描样品外表的渺小探针 2010.08.12
·阀控式铅酸单电池的电压和内阻进行检测ECT探针 2010.08.09
·四探针法通过采用四探针法取代二探针法 2010.08.09
·化学探针浓缩代谢物 2010.07.27
·惠瑞捷子推出用于高等DRAM测试全晶圆探针 2010.07.27
·美机构称研制出可在20米外探测爆炸物的设备 2010.07.12
·新型冷冻探针克服了稳定差的缺点 2010.06.28
·信阳师院两国家自然科学基金项目结题 2010.06.22
·去除AFM探针表面污染物新方法 2010.06.22
·探针获取感兴致的讯号 2010.06.13
·纳米刷子可清除AFM探针污染 2010.06.02
·ECT探针一旦盲目调整后很难恢复到原来的状态 2010.10.14
·ECT探针在未加压缩空气时不可强行拉动动子 2010.10.01
·对ECT探针定子的损伤将直接影响工作台的步进精度及设备使用寿命 2010.10.01
·新的QA探针测量测量系统的采样环节无需加热且响应快 2010.09.16
·标准探针长度及重量与普通探针基本一致 2010.09.16
·通过探针分离和描绘低质量小分子和极性分子 2010.08.23
·可实现污染物去除和探针研究的一步完成 2010.08.23
·修补技巧甚至实用于将感兴致的讯号连到芯片的外表供进一步视察 2010.08.12
·悬臂尖端带有一个用来扫描样品外表的渺小探针 2010.08.12
·阀控式铅酸单电池的电压和内阻进行检测ECT探针 2010.08.09
·四探针法通过采用四探针法取代二探针法 2010.08.09
·化学探针浓缩代谢物 2010.07.27
·惠瑞捷子推出用于高等DRAM测试全晶圆探针 2010.07.27
·美机构称研制出可在20米外探测爆炸物的设备 2010.07.12
·新型冷冻探针克服了稳定差的缺点 2010.06.28
·信阳师院两国家自然科学基金项目结题 2010.06.22
·去除AFM探针表面污染物新方法 2010.06.22
·探针获取感兴致的讯号 2010.06.13
·纳米刷子可清除AFM探针污染 2010.06.02
